181.在集成電路絕緣氧化層ESD介質擊穿物理模型的基礎上，討論了絕緣氧化層加上一次線性電場條件下發生介質擊穿的機理。
182.在時間域中，利用地震記錄中的振幅與上升時間信息可以計算出巖石介質的品質因子Q值。
183.一種黃色的樹脂，和玻璃具有相似的光學特性，被用來作為顯微鏡載玻片的覆蓋介質。
184.這種閥門適用于高溫高壓介質。
185.位于不同構造分區內的臺站，臺站下方地殼介質各向異性特征有所不同。
186.在酸性介質中，磷酸二氫鉀與鉬酸銨、酒石酸銻鉀及抗壞血酸作用，生成藍色的絡合物。
187.巖溶裂隙介質可視為雙重孔隙度介質。
188.水、煤和鹽的密度與其它介質有很大的差別。
189.分析鈾時對取樣點位置或介質的要求就不那么嚴格了。
190.多層介質高反射鏡是激光器中重要的光學元件之一。
191.細節各不相同，具體根據軟件和備份介質而定，因此您需要參考備份軟件文檔獲取詳細信息。
192.在開啟-關閉位置，可防止管路流體介質進入閥體和閥塞閥座內。
193.聚乙烯材質因無機成分單純，導電介質幾乎不存在，因此在絕緣及耐電壓性的表現上皆優于現有傳統管材。
194.可測固體和液體介質。
195.存儲介質是一種能使內容被保存的物質材料，通常使用的存儲介質是磁盤。
196.本文主要采用理論與數值方法研究了電磁感應透明介質中的光學渦旋孤子。
197.溫度對填埋氣體在多孔介質中的儲存和釋放過程有著重要影響。
198.地下水在各種含水介質中運移時，在宏觀與微觀上具有不同的規律。
199.從一種介質向另一種介質拷貝的復制數據或信息。
200.實現了以塑料光纖為傳輸介質的快速以太網應用系統。
201.不可逆特性是多孔介質滲流問題的本質特征。
202.當波從均勻介質中的波源移出時，呈直線傳播。
203.但如果光在介質內傳播就會慢下來。
204.它是將熱升華墨水直接打印在涂織物上，無需任何介質，通過顯示機色彩還原所需畫面。設備穩定，成本低，效率高，省人工，市場前景廣闊m.9061xoxo.com，商機無限。
205.結論細胞免疫可能在慢性排斥發病中起作用，細胞因子和粘附分子則是一過程中的重要介質。
206.扳開細桿并對準藍線，或者取出介質。
207.碟形是由于在拋光過程中銅線與介質層不同的拋光速率所導致。
208.運用FAAS快速分析硝酸鎘中鐵、銅、鋅、鉛含量，建立了鐵、銅、鋅、鉛的共振線，燈電流，酸性介質等最佳實驗條件。
209.氟化氫銨合成存在幾個相關的可逆反應，其平衡常數隨著反應介質，溫度條件的改變而改變。
210.最后，在基于雙曲線介質來構造高指向天線。
211.它是表達瓦每平方公尺耗散的每度的溫度上升超過冷卻介質。
212.該波導為介質波導，內襯兩組通路孔作為導體，本文中的這種裝置被稱為“疊片波導”。
213.利用介質阻擋放電進行常壓氮氣滲氮研究取得突破性進展。
214.磁法勘探是觀測研究地下介質磁場變化的一種地球物理勘探方法。
215.調節閥類:調節管路中介質的流量和壓力。
216.根據非線性折射率系數的符號，克爾介質分為自聚焦介質和自散焦介質兩類。
217.單個光子的波包的傳遞速度在介質中不比光速快，而且可以在慢光介質中延遲到秒。慢光介質中的群速度比光速慢。
218.方案一采用介質微帶縫隙天線的形式，簡便起見，簡化機體表面模型為一傾斜放置的超大金屬平面。
219.在超臨界二氧化碳介質的鈀催化末端炔烴羰基化反應中，研究了助溶劑、壓力和溫度等因素對反應的影響。
220.光纖是一種介質波導的玻璃或塑料。
221.通過對接收點示蹤劑濃度曲線反演了巖溶介質類型。
222.高壓力的氣體是高壓絕緣材料的靈活可靠的介質。
223.將導體鏡象法推廣應用到介質。
224.安全閥類用于介質超壓時的安全保護。
225.文中就松散顆粒介質的情況對反射系數進行了簡化，得出了前人用唯象理論所獲得的結果。
226.給出了多孔介質中脈沖快縱波主頻偏移的數值計算實例。
227.在此基礎上給出了雙曲正割型輸入脈沖在介質中的傳輸特性，得到了近似解析解，并與直接演化高階非線性薛定諤方程作了比較。
228.在均勻介質中光沿直線傳播。
229.以交聯瓊脂糖凝膠為基質，制備了DEAE型離子交換層析介質。
230.以空氣-水為介質，研究了兩種板間距填料結構的流體力學性能。
231.溶液中的計算采用可極化連續介質模型。
232.在考慮縱橫波Q值的基礎上，利用交錯網格高階差分法對粘彈性介質中地震波傳播進行了數值模擬。
233.無線網既可以使用紅外線也可以使用射頻技術作為介質。
234.用于鍋爐給水及其它管道系統，作阻止介質倒流用。
235.根據材料力學和彈性力學的有關理論，推導出了溶洞介質的壓縮系數計算公式。
236.根據等效天線法，對三維介質天線罩的電氣特性進行了分析。
237.離子液體可以作為反應介質和催化劑。
238.油田用制氮設備冷卻系統的特點是體積龐大，要求冷卻的介質種類較多，可靠性要求高。
239.除非您懷疑引導盤有問題，否則不要選yes，因為檢查介質表面要花很長的時間，而且大多數情況下這是不必要的。
240.這一節將只討論介質分層媒質。
